摩擦力顕微鏡 (Lateral Force Microscopy)

従来のAFM技術はカンチレバーの垂直方向の偏向を利用してサンプル表面形態のイメージ化を行っていたのに対して、水平力顕微鏡(LFM)はカンチレバーがサンプル表面をスキャンする際のねじれ反発に注目しています。チップがサンプル表面を移動する際のカンチレバーのねじれデータは、サンプルの摩擦力や粘着性特性に関するデータを提供します。