自動欠陥レビューと表面粗さ測定に最適なAFM
ナノスケールの欠陥を特定する作業は、メディアやフラットなサブストレートを扱うエンジニアにとって非常に時間のかかるプロセスです。Park NX-HDMは、自動化された欠陥の識別、スキャン、分析により、欠陥レビュープロセスを大幅に高速化する原子間力顕微鏡検査システムです。Park NX-HDMは、様々な光学検査ツールと直接リンクするため、自動欠陥レビューの処理能力が大幅に向上します。さらに、Park NX-HDMは、何度スキャンを行っても、スキャンごとに正確なサブオングストロームの表面粗さ測定を実現します。業界最小のノイズフロアと独自の真のノンコンタクト™技術を持つPark NX-HDMは、とともに、市場で最も正確な表面粗さ測定用のAFMです。
Automatic Defect Review for Media
and Substrates
- Fast defect imaging in non-contact mode
- Automated survey scan of defects mapped by optical inspection tools
- Automated zoom-in scan of specified defects
- Automated analysis of imaged defect types
- Links to a wide range of automated optical inspection (AOI) tools
Accurate Sub-Angstrom Surface
Roughness Measurement
- Automated surface roughness measurements for media and substrates
- Industry’s lowest system noise of less than 0.5 angstrom rms
- Immunity from parameter-dependent results by True Non-Contact™ technology
- True Non-Contact™ maintains accuracy without degradation in scan resolution
- Automatic tip exchange module (optional)
Cost Savings with True Non-Contact™
Mode
- 10 times or longer tip life during general purpose and defect imaging than any other AFMs
- Minimal tip wear from prolonged high-quality scans
- Minimized sample damage or modification
Accurate AFM Topography with Low
Noise Z Detector
- True Sample Topography™ without edge overshoot or piezo creep error
- Accurate surface height recording, even during high-speed scanning
- Industry leading forward and backward scan gap of less than 0.15%