原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscopy, AFM）の原理
原子間力顕微鏡は、サンプルをナノスケールで研究するための最も用途が広くて強力な手法であることは間違いありません。 ３次元トポグラフィーにてイメージングできるだけでなく、研究者やエンジニアのニーズに合わせて様々なタイプの表面測定を可能とするため、非常に汎用性が高いです。AFMを使うことで、 サンプルの準備に労力をかけずにオングストロームスケールの分解能での高さ情報を基に、原子レベルの解像度にてイメージングが可能です。では、AFMはどのように機能するのでしょうか？このページでは、 わかりやすいビデオアニメーションを使ってAFMの原理を解説いたします。どうぞお気軽にこのページを他のユーザーと共有してください。ご不明な点等ございましたら、メールでのお問い合わせをお願いいたします。
原子間力顕微鏡の原理
