High vacuum atomic
force microscope for
failure analysis and
atmosphere-sensitive
materials research
Park NX-Hivac allows failure analysis engineers to
improve the sensitivity and repeatability of their AFM
measurements through high vacuumenvironment.
Because high vacuum measurement offers greater
accuracy, better repeatability, and less tip and
sample damage than ambient or dry N2 conditions,
users can measure a wider range of signal response
in various failure analysis applications, such as
dopant concentration of Scanning Spreading Resistance
Microscopy (SSRM).
Park NX-Hivac enables materials scientific research
that requires high accuracy and high resolution
measurements in a vacuum environment free from oxygen and
other agents.
真空環境でSSRM計測を行うことにより、チップ-試料間の力を小さくしてチップ及び試料の両方のダメージを大幅に削減できます。これにより、それぞれのチップ寿命を伸ばすことで、測定のコストと運用効率を向上させることができ、また同時に、空間分解能とS/N比も改善できる為にもっと正確な測定結果を得ることができます。したがって、NX-Hivac型を使用した真空SSRM計測は故障解析エンジニアに彼らのスループットを向上させ、コストを削減と精度を改善するという素晴らしい選択を与えてくれます。