Scanning Kelvin Probe Microscopy (주사 켈빈 탐침 현미경 검사)

주사 켈빈 탐침 현미경 검사에서는 정전용 캔틸레버가 기준 공진주파수로 진동하는 동시에 비접촉모드를 이용하여 시료표면 위를 스캔하게 됩니다. 정전력 신호의 결과를 얻어 시료 표면의 정전 신호 전위 및 전하 분포에 대한 정보를 알아낼 수 있습니다. 샘플 표면 형상 데이터는 탐침과 시료사이의 힘을 조절하면서 측정됩니다.