Conductive AFM ( 전도식 원자현미경)

시료의 전기 전도율을 바이어스 전압을 가한 전도성 캔틸레버를 이용하여 접촉 방식의 원자현미경 주사를 수행함으로 측정할 수 있게 됩니다. 높은 전기 전도율을 가진 시료 표면의 영역은 전류가 쉽게 흐르며, 낮은 전기 전도율을 가진 시료의 영역은 높은 전기 저항성을 갖게 됩니다. 전도식 원자현미경은 전도성 캔틸레버가 시료 표면에 접촉한 채로 스캔하여 형상 이미지를 얻음과 동시에 캔틸레버와 시료 간의 전류변화를 측정합니다