The quickest path to
innovative research
Park Systems의 NX10은 최상의 나노 단위의 해상도로, 믿을 수 있는 동일한 데이터를 제공합니다. 샘플 세팅부터 이미지 스캔, 측정, 분석에 이르기까지 모든 단계에서 시간을 줄일 수 있습니다. 사용자는 더 많은 시간과 더 나은 데이터를 기반으로, 혁신적인 연구에 집중할 수 있을 것입니다.
Innovative features for
innovative work
Park SmartScan Auto Mode
SmartScan Auto performs all the necessary operations for imaging
and intelligently decides on the optimum image quality and scan
speed, all
autonomously. SmartScan Auto is made possible by Park’s
proprietary enabling technologies. That saves you time, money,
and makes for a better end result.
Park Crosstalk Elimination Technology
Park NX10 produces data you can trust, replicate, and publish at
thehighest nano resolution.
It features the world’s only true non-contact
AFM that prolongs tip life while preserving your sample, and
flexure based independent XY and Z scanner for unparalleled
accuracy and resolution.
Park NX10 SICM Module
Park NX10 SICM Module provides nanoscale
imaging for a wide range of applications, Cell
Biology, Analytical Chemistry, Electrophysiology,
Neuroscience.
Accurate AFM Solutions
for General Research
Tall Sample
1.5 µm step height
Scan Mode : Non-contact mode, Topography from Z position
sensor
Flat Sample
Atomic steps of sapphire wafer
0.3 nm step height, Scan Mode : Non-contact mode, Topography
from Z position sensor
Hard Sample
Tungsten film
Scan Mode : Non-contact mode, Topography from Z position
sensor
Soft Sample
Collagen fibril
Scan Mode : Non-contact mode, Topography from Z position
sensor
Accurate AFM
Measurement with
Low Noise Z Detector
Low Noise Z Detector
of Park NX10 AFM
-
NX 플랫폼의 특성화 된 디자인과 진보된 핵심 기술W
-
산업 내에서 가장 작은 노이즈 레벨
-
디폴트 토포그래피 신호로 사용됨
새로운 NX-series AFM의 Z-디텍터는 새로운 타입의 스트레인 게이지로, Park Systems의 핵심적인 기술의 진보입니다. 이것은 0.2 옹스트롬(Angstrom)으로 산업 내 최고의 Z-디텍터 노이즈 입니다. 노이즈 레벨은 Z-디텍터가 디폴트 토포그래피 신호로 사용되기에 충분히 낮은 수치를 갖습니다. 만약 새로운 NX-series AFM을 이전 세대의 AFM 모델인 XE와 비교하자면, 명백한 차이점이 존재합니다. 만약 Z-디텍터의 노이즈가 매우 높다면, 사파이어(sapphire) 웨이퍼에서의 원자 단계들을 명확히 관측하기가 불가능할 것입니다. Park Systems의 모델 NX AFM의 Z-디텍터로 부터 높이신호는 Z-전압 베이스 토포그래피의와 동일한 노이즈 레벨을 갖습니다.
The noise level of the Z position detectors
of the Park NX
The topography images of a sapphire wafer
obtained from NX10
The noise level of the Z position detectors
of the Park XE
The topography images of a sapphire wafer
obtained from XE-100
Accurate AFM Scan by
True Non-Contact™ Mode
True Non-Contact™ Mode
True Non-Contact™ Mode is a scan mode unique
to Park AFM systems that produces high resolution
and accurate data by preventing destructive tip-sample
interaction during a scan.
Accurate Feedback by Faster Z-servo enables
True
Non-Contact AFM
-
작은 팁 마모 = 장기적인 고해상도 스캔
-
손상되지 않는 팁-샘플 상호 작용 = 견본 수정의 최소화
-
Maintains non-contact scan over a wide range of samples
and conditions
Unlike in contact mode, where the tip contacts
the sample continuously during a scan, or in
tapping mode, where the tip touches the sample
periodically, a tip used in non-contact mode does
not touch the sample. Because of this, use of non-contact
mode has several key advantages.
Scanning at the highest resolution throughout
imaging is now possible as the tip’s sharpness is
maintained.
The Best User
Convenience by Design
Easy Tip and Sample Exchange
사이드 접근을 용이하게 하는 독특한 헤드 디자인은 사용자가 손으로 새로운 팁과 샘플교체를 쉽게 합니다. 또한, 캔틸레버 팁 홀더에 부착된 미리 조정된 캔틸레버를 이용하여 스캔을 할 수 있기 때문에 까다로운 레이저 빔 정렬이 필요 없습니다.
Lightning Fast Automatic Tip Approach
팁에서 샘플까지의 자동적 접근법은 사용자 개입을 요구하지 않으며 캔틸레버에 하중을 가한 후 10초 이내로 작동될 수 있게 맞물립니다. 접근표면에 대한 캔틸레버 반응을 관찰함으로써, Park Systems의 NX10은 굽힘 하중을 팁에서 샘플까지의 자동적 접근법으로 10초 내에 시작할 수 있습니다. 빠른 속도를 갖는 Z 스캐너의 신속한 피드백과 NX 전자 컨트롤러가 처리하는 낮은 노이즈 신호는 사용자 개입 없이 샘플표면에 대한 빠른 정렬을 가능하게 합니다. 이는 최소한의 사용자 참여만을 요구합니다.
Easy, Intuitive Laser Beam Alignment
레이저 빔은 미리 조정된 캔틸레버 홀더에 의하여 캔틸레버에 위치 됩니다. 더욱, 축 중심 탑-다운 뷰는 레이저 스팟을 쉽게 발견할 수 있게 합니다. 이는 레이저 빔이 캔틸레버에 수직으로 떨어지므로, 사용자는 두 개의 손잡이를 회전시켜 레이저 스팟을 X, Y축에 따라 움직이게 할 수 있습니다. 결과적으로 사용자는 빔-얼라이먼트 사용자 인터페이스를 이용하여 레이저를 쉽게 발견할 수 있으며, PSPD에 수월하게 배치할 수 있습니다. 여기서부터는 시그널의 최대화를 위한 약간의 조정만이 필요합니다.
