AFM 기술의 강력한 힘과 다양성을 모든 사람에게 현실로
혁신적인 Park AFM 운영 소프트웨어 SmartScan은 과학기술 연구자와 기술자가 수행하는 많은 작업을 자동화 시킴으로써 고도의 효율성을 갖추도록 설계 되어 각 연구소와 산업현장에서 괄목할만한 업무 효율 향상을 기대할 수 있게 되었습니다. 아울러 전문 고급 기술자만 가능했던 업무들을 비숙련된 기술자들도 단 한번의 클릭만으로 손쉽게 고품질의 나노 이미지를 생성할 수 있습니다.
강력함과 단순함의 조화
대부분의 AFM 소프트웨어는 일반 사용자에게 매우 어려운 조작법을 요구하지만 Park SmartScan는 자동모드(Auto Mode)로 단 한번의 클릭만으로 사용자가 필요로 하는 것을 손쉽게 운영할 수 있습니다. 뿐만 아니라 더욱 강력하고 다양한 고급 기능을 제공하여 숙련된 연구자가 고급 실험을 설계할 수 있도록 지원 합니다.
AFM 시스템을 작동하는 방법은 다음과 같습니다.
1 Setup 을 클릭 하십시오.
SmartScan 마법사 가이드(Wizard Guides)에 따라 아주 짧은 시간에 이미징을 위한 샘플 배치 및 기본 설정을 진행 합니다.
2 “Position” 을 클릭 하십시오.
시스템이 Cantilever의 주파수 스윕을 자동으로 수행하고 Z 스테이지를 샘플에 접근시킨 후 사용자가 이미징을 위해 관심 영역을 탐색할 수 있도록 샘플을 자동으로 맞춰줍니다.
3 “Image” 를 클릭하십시오.
시스템은 최적의 설정을 위해 필요한 모든 파라미터를 설정한 다음, Cantilever를 체결하고 샘플 스캔을 시작합니다. 이미지가 완료될 때까지 계속 스캔 합니다.
종료
cantilever는 샘플에서 벗어나 다음 샘플 이미징을 준비 합니다.
Park SmartScan, 당신의 작업 시간을 절약해주는 솔루션
SmartScan 자동모드(Auto Mode)는 이미징에 필요한 모든 작업을 수행하고 최적의 이미지 품질과 스캔 속도를 지능적으로 결정합니다. SmartScan 자동모드는 Park의 독점 기술로 당신의 작업 시간과 돈을 절약 할 수 있으며 더 나은 최종 결과를 실현 시킬 것입니다.
사용자에게 친숙한 UX
SmartScan UI 및 레이아웃을 사용하면 모든 것을 손쉽게 처리 할 수 있습니다. 광학 카메라를 통해 보이는 큰 광학 화면에서 레이저 반사, 팁, 샘플, 레이저 PSPD 정렬을 확인하며, XY 스테이지 및 Z 스테이지 쉽게 조작할 수 있습니다. 또한 마우스의 스크롤을 사용하여 화면, XY 스테이지, Z 스테이지, 조명 강도 등을 쉽게 제어 할 수 있습니다. 한 번에 최대 8개의 개별 trace-line 또는 채널(예 : Topography, EFM, 진폭 및 스캔 속도)을 명령하고 사용자가 정의한 trace-line 프로파일을 편리하게 저장할 수 있습니다. 또한 사용자는 종합적인 분석을 위해 실시간으로 이중 축 그래프에서 두 개의 신호 채널을 확인할 수 있습니다.
FastApproach™
버튼 클릭만으로, Z 스캐너는 일반적인 수동 방식보다 휠씬 빠른 속도로 샘플에 자동으로 근접합니다. Park의 독창적인 FastApproach™는 사용자의 개입 없이 10초 이내에 빠르고 안전하게 Probe를 샘플 표면까지 가져옵니다.
간단하게 관심 영역 찾기
Probe를 샘플 표면에 체결 후에 광학 카메라는 자동으로 샘플에 초점을 맞춥니다. SmartScan ™의 UX는 통합 된 광학 화면에서 전동 스테이지를 제어하여 시료를 직관적으로 탐색 할 수 있습니다. 당신은 광학 화면에서 원하는 관심 영역에 마우스를 클릭하여 쉽게 이동할 수 있습니다.
SmartScan™ 자동 모드(Auto Mode)로 단 한번에 클릭
smartscan-screen-3 FastApproach™ 버튼 클릭만으로, Z 스캐너는 일반적인 수동 방식보다 휠씬 빠른 속도로 샘플에 자동으로 근접합니다. Park의 독창적인 FastApproach™는 사용자의 개입 없이 10초 이내에 빠르고 안전하게 Probe를 샘플 표면까지 가져옵니다. 간단하게 관심 영역 찾기 Probe를 샘플 표면에 체결 후에 광학 카메라는 자동으로 샘플에 초점을 맞춥니다. SmartScan ™의 UX는 통합 된 광학 화면에서 전동 스테이지를 제어하여 시료를 직관적으로 탐색 할 수 있습니다. 당신은 광학 화면에서 원하는 관심 영역에 마우스를 클릭하여 쉽게 이동할 수 있습니다. SmartScan™ 자동 모드(Auto Mode)로 단 한번에 클릭 AFM 이미징을 위해 지정 해야 하는 것은 해상도와 스캔 크기뿐입니다. 이러한 요소를 벗어나서 모든 정교한 AFM 매개 변수를 SmartScan ™의 자동 모드까지 설정할 수 있습니다. 시스템은 버튼 클릭만으로 자동으로 이미징을위한 최적화 된 조건으로 측정을 시작합니다.
AdaptiveScan™으로 빠른 속도로 이미지 획득
Park의 혁신적인 AdaptiveScan™은 샘플 표면의 최고점과 최저점을 기준으로 스캔 속도를 자동으로 제어합니다. AdaptiveScan™는 보다 빠른 속도로 알려지지 않은 형상의 품질 영상을 획득하기 위해 최적의 스캔 속도로 동작합니다. 이로 인해 숙련된 전문가를 통해 얻은 이미지 화질을 유지하는 동시에 스캔 시간을 단축할 수 있습니다. 대상을 가까운 위치로 이동하거나 확대 할 때 AdaptiveScan은 자동으로 새로운 최적 조건을 적용합니다.
마법사 가이드(Wizard Guides)
소프트웨어에 포함 된 마법사 가이드(Wizard Guides)는 작업에 필요한 단계를 애니메이션으로 쉽게 보여 줍니다. 경험이 부족한 AFM 사용자라도 스스로 따라 할 수 있는 있어 빠르고 쉽게 작동 할 수 있습니다.
Park SmartScan 빠른 지원 시스템
신속한 문제 해결 또는 AFM 작업 지원을 위해 SmartScan에 원격 액세스 서비스가 통합 되어 있습니다.
The easiest operating software available for nanolithography and nanomanipulation
Park SmartLitho, enabled by SmartScan is an AFM based platform that performs nanolithography and nanomanipulation on materials, electrical and electronics devices, nanotechnology and other areas of research.
Park SmartScan 소프트웨어는 다음과 같은 5가지 언어로 제공됩니다.
Park SmartScan 소프트웨어는 다음과 같은 5가지 언어로 제공됩니다.
- English
- Japanese
- Chinese
- Korean
- 러시아어
아마추어부터 전문가까지 모두를 위한 AFM 소프트웨어
AFM 연구 분야가 학술 연구, 산업용 나노 계측 또는 고장 분석에 중점을 두고 있는 경우 SmartScan™의 자동 모드(Auto Mode)는 적용 가능한 고품질 AFM 데이터를 생성하는 능률적 인 시스템을 제공합니다. 또한 SmartScan™은 초보자 또는 노련한 사용자가 경험을 얻기 위한 시행 착오를 거치지 않아도 전문가만큼 좋은 품질의 데이터를 생산적으로 얻을 수 있습니다.
자동 및 수동 조작을 위한 솔루션
SmartScan™의 자동 모드(Auto Mode)는 최적화를 통해 매우 빠르고 쉬운 AFM 작동을 제공하지만 SmartScan™은 고급 사용자들을 위한 수동 모드(Manual Mode) 사용 방법도 제공합니다. 또한 강력한 프로그램을 입력할 수 있는 스크립팅 기능을 통해 숙련 된 연구자가 데이터 수집의 유연성을 향상 시켜야 하는 고급 실험을 설계 할 수 있습니다.
고급 실험을 위한 향상된 기능: 내장형 매크로(Built-in Macros)
내장형 매크로는 XY 또는 Z 스테이지를 특정 위치로 이동하거나 조작을 재설정하는 것과 같은 반복 조작에 쉽게 설정하여 적용 할 수 있습니다. 사용자는 필요에 따라 기존 매크로를 편집하거나 새 매크로를 만들 수 있습니다.
