Non-Contact mode (비접촉 방식)의 대체 기술인 이 방식에서는, Non-Contact mode와 비슷하게 탐침이 표면 바로 위에서 진동하게 되는데, 작은 진폭으로 스캔하는 Non-Contact mode와 다르게 큰 진폭으로 진동을 합니다. 이처럼 큰 진동으로 인해 제어회로가 캔틸레버의 신호를 쉽게 감지할 수 있기 때문에, Tapping mode의 이미징 피드백 제어는 다른 이미징 모드와 비교하여 훨씬 용이합니다. 이 방식은 AFM 이미징이 상대적으로 쉬워 일반적인 원자현미경 에 널리 사용되어 있고 있습니다. 하지만 반복적인 접촉으로 인해 탐침의 끝이 빨리 무뎌지는 단점이 있어, 이미지의 영상 분해능의 손실이 Non-Contact mode와 비교하여 빠르게 발생합니다.